Schichtdickenmessgerät LEPTOSKOP

Eigenschaften

• Mit farbigem, rutschfestem Gummirahmen • Beleuchtetes Display mit großen Ziffern • Ermittelt die Dicke nichtmagnetischer Schichten auf magnetisierbarem Substrat (nach DIN EN ISO 2178) und die Dicke nichtleitender Schichten auf nichtmagnetischem, leitfähigem Grundmaterial nach dem Wirbelstromprinzip (nach DIN EN ISO 2360) mit externen Sonden für unterschiedlichste Geometrie • Messbereich sondenabhängig • Einheiten µm, mm, mils, inch. Stromversorgung erfolgt wahlweise über Batterie, Akkus, USB oder Netzteil. Hinweis: • Gerät mit Datenspeicher und andere Sonden auf Anfrage • Messunsicherheit: • Für Schichten<100 µm: 1 % des Messwerts ±1µm (nach Kalibrierung) • Für Schichten>100 µm: 1–3 % des Messwerts ±1µm • Für Schichten>1000 µm: 3–5 % des Messwerts ±10 µm • Für Schichten>10000 µm: 5 % des Messwerts ±100 µm